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扫描电镜如何获取图像？

扫描电镜（SEM）通过扫描样品表面并收集反射的电子信号来获取图像。

选择合适的加速电压对于扫描电镜（SEM）的图像质量、分辨率、对比度以及分析深度至关重要。

扫描电镜（SEM）可以提供多种类型的图像，涵盖不同的信息和样品特征。

扫描电镜（SEM）中的样品通常需要在真空环境中进行处理。这是因为扫描电镜的工作原理依赖于高能电子束与样品的相互作用，而高能电子束在空气中会迅速散射或吸收，无法有效地穿透和与样品发生作用。

扫描电镜（SEM）的样品台通常可以倾斜，这一功能对于获得高质量成像效果和分析结果非常重要。

在扫描电镜（SEM）中，样品涂层是常见的样品制备步骤之一，尤其是对于非导电样品。

在扫描电镜（SEM）中，像差会导致图像失真、模糊或细节丢失，从而影响成像质量。判断像差问题的方法包括观察图像特征、检查显微镜设置以及分析不同像差类型的特定表现。

扫描电镜（SEM）通过断层成像可以获得样品内部的三维结构信息。这种方法通常被称为聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）断层成像，或者是通过特定的软件结合多视角图像进行重建。