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扫描电镜与透射电镜有何区别？

扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）是两种常用的电子显微镜，它们在原理、成像方式、样品要求和应用等方面都有很大的不同。

扫描电镜（SEM）在进行成像时需要一个高真空环境，这对成像的质量和效果有着重要影响。

在扫描电子显微镜（SEM）中，生成高对比度图像是为了增强样品细节的可视化，特别是在观测微小的结构特征时。

在扫描电子显微镜（SEM）中，避免样品的热损伤非常重要，尤其是在对温度敏感的材料和微观结构进行观察时。

扫描电镜（SEM）是一种常用于研究样品表面形貌和微观结构的工具。它通过扫描样品表面并利用电子束与样品的相互作用来获得高分辨率的图像。

扫描电镜（SEM）在检测涂层脱落或腐蚀现象中起着非常重要的作用。

扫描电镜（SEM）大多数都配备了自动对焦功能，但它的实现方式和效果取决于具体的设备和型号。

扫描电镜（SEM）的样品不必必须导电，但大多数情况下，导电样品更容易获得清晰的图像，因为它们不会产生电荷积累。