行业动态开拓创新，高端品质，真挚服务

扫描电镜中如何调整焦距？

在扫描电镜 (SEM) 中，焦距调整是确保图像清晰度和分辨率的关键步骤。

扫描电镜 (SEM) 可以用来测量样品的尺寸和形状，但这种测量通常依赖于电镜的分辨率、样品表面的特征以及相关的软件工具进行精确分析。

在扫描电镜（SEM）中，畸变（distortion）是指图像中的形状、尺寸或比例的变化，可能导致不准确的分析或失真的图像。

在扫描电镜（SEM）中，样品镀金是常见的样品制备方法之一，主要用于增强样品的导电性，并避免由于样品表面电荷积累（charging）而影响图像质量。

扫描电子显微镜（SEM）的样品尺寸限制主要受到以下几个因素的影响：

在扫描电子显微镜（SEM）中，焦深（Depth of Field，DOF）是指电子显微镜能够清晰成像的样品表面区域的深度范围。

扫描电镜（SEM）对样品表面粗糙度的敏感度较高，尤其在观察较小的细节和表面特征时。

扫描电镜（SEM）非常适合用于观察样品的表面缺陷，尤其是在纳米级别的缺陷上。扫描电镜通过电子束与样品表面相互作用生成图像，可以清晰地显示出表面形貌、微小裂纹、气孔、腐蚀痕迹、加工痕迹等缺陷。