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扫描电镜成像中出现条纹或噪声怎么办？

在扫描电镜（SEM）成像中出现条纹或噪声可能会影响图像质量，常见的条纹和噪声类型及其可能原因如下：

扫描电镜（SEM）的标定（Calibration）主要用于确保测量的准确性，包括尺寸测量、放大倍率、电子束偏转等。

扫描电镜（SEM）中常见的成像模式有多种，每种模式用于不同的分析目的，下面是一些常见的成像模式：

扫描电镜（SEM）的图像生成过程涉及电子束与样品表面相互作用的复杂过程。

是否需要烘干处理取决于样品的材质、含水量以及扫描电镜（SEM）模式。

非导电样品在扫描电镜（SEM）下成像时，由于电子束轰击样品会导致电荷积累，进而产生充电效应，这可能导致图像畸变、漂移甚至无法成像。

在扫描电镜（SEM）成像过程中，样品需要稳定固定在样品台上，以避免成像时的漂移、振动或充电效应。

扫描电镜（SEM）的空间分辨率通常通过以下几种方法进行测定：