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扫描电镜开机后电子束无法对中该如何调整

当扫描电镜（SEM）开机后电子束无法对中时，可按以下步骤系统排查和调整：

扫描电镜（SEM）对样品尺寸和厚度的限制主要取决于其腔室设计、样品台承载能力、探测器类型以及电子束穿透深度等因素。

样品在进入扫描电镜（SEM）观察之前，为确保图像质量和避免损伤，通常需要进行适当的前处理。

判断样品表面是否被扫描电镜的电子束烧蚀，通常可从图像特征、操作变化及后处理观察中综合分析。

判断扫描电镜（SEM）图像中的条纹是否为干扰（artifact），可以从以下几个方面着手分析：

扫描电镜（SEM）中的能谱分析（EDS）中出现假峰（artifact peaks）或伪峰（spurious peaks），可能由以下几类原因引起：

在扫描电子显微镜（SEM）中，非导电样品（如聚合物、陶瓷、生物材料等）容易出现充电效应，导致图像发亮、偏移、拉伸、失真甚至无法成像。

判断扫描电镜（SEM）是否需要重新调焦，可以通过以下几个方法和信号来判断：