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如何应对扫描电镜的漂移与失焦问题？

在扫描电镜 (SEM) 使用过程中，漂移与失焦问题会影响图像的清晰度与精度。

在扫描电镜 (SEM) 中减少样品的辐照损伤是保持样品结构完整性和获得高质量图像的关键。

在扫描电镜 (SEM) 中，调整光阑 (Aperture) 是提升图像清晰度、对比度和景深的关键步骤。

在扫描电镜 (SEM) 中使用低电压成像 (Low Voltage Imaging) 是一种有效方法，尤其适合观察非导电样品、表面细节以及减少样品损伤和充电效应的问题。

判断扫描电镜 (SEM) 的电子枪 (Electron Gun) 是否需要更换，通常可以通过以下几个方面进行评估：

在扫描电镜 (SEM) 中，使用低真空模式 (Low Vacuum Mode) 观察非导电样品的目的是为了避免样品表面的电荷积累问题，同时无需复杂的导电处理（如喷金或碳涂层）。

在扫描电镜（SEM, Scanning Electron Microscope）成像过程中，样品上的污染物会严重影响成像质量和分析结果。

在扫描电镜（SEM）中，电磁透镜的作用主要是用来聚焦和控制电子束，使其能够精准地扫描样品表面，从而获得高分辨率的图像和精确的分析结果。