行业动态开拓创新，高端品质，真挚服务

如何校正扫描电镜图像中的失真？

校正扫描电镜 (SEM) 图像中的失真是获取高质量成像的关键步骤，尤其在进行定量分析或高精度测量时尤为重要。

在扫描电镜 (SEM) 中，对样品施加导电涂层是提高成像质量的关键步骤之一，特别是对于导电性差或非导电性样品。

扫描电镜（SEM）中的电子束与样品之间的相互作用是影响成像质量的关键因素。

在扫描电镜（SEM）中，导电性差的样品（如非金属或高电阻材料）会导致成像问题，特别是由于静电积累。

在扫描电镜 (SEM) 中，分辨率和视场大小的平衡是显微成像的重要考量。

在扫描电镜 (SEM) 中，电子束散射对成像效果有显著影响，尤其是在分辨率、图像对比度和信噪比等方面。

扫描电子显微镜（SEM）的分辨率在很大程度上受到电子束条件的影响。电子束的加速电压、束斑直径、探测器类型、束流强度等参数都会直接或间接地影响成像效果和分辨率。

在扫描电子显微镜（SEM）中，低导电材料的成像效果常常会受到样品充电效应的影响。