如何防止样品在SEM成像过程中受到污染?
日期:2025-03-13
在扫描电子显微镜(SEM)成像过程中,样品可能会受到污染,导致图像质量下降或影响分析结果。以下是一些防止污染的有效方法:
1. 预处理样品,减少污染源
清洁样品:使用超声波清洗、去离子水冲洗或等离子清洗去除表面污染物。
干燥样品:避免水分残留,可使用烘干或真空干燥。
避免手接触:用镊子或手套处理样品,防止皮脂污染。
2. 控制真空腔内污染
定期清洁 SEM 样品腔:使用等离子清洗或低能电子束清洗去除沉积污染。
避免使用高挥发性胶水或银漆:可选择低污染的导电胶或机械夹持方式固定样品。
减少样品仓打开次数:频繁暴露空气可能带入水汽和有机污染物。
3. 使用低束流和低加速电压
电子束与样品作用可能引发碳沉积污染,适当降低束流和电压可减少污染风险。
4. 选择适当的样品涂层
绝缘样品需喷金、碳或铂,提高导电性并减少电子束诱导污染。
5. 采用低污染 SEM 运行模式
低温 SEM(冷台):对生物或挥发性样品可减少污染和损伤。
环境 SEM(ESEM):适用于含水或易挥发样品,可减少污染沉积。
6. 维护 SEM 仪器
保持高真空状态,防止有机分子在样品上沉积。
定期更换真空泵油,防止油蒸气污染。
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作者:威尼斯886699
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