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如何处理易挥发性样品以适应扫描电镜分析？

处理易挥发性样品以适应扫描电镜（SEM）分析是一个需要细致考虑样品稳定性和电镜操作条件的过程。

在扫描电镜（SEM）观察过程中，处理样品中的水分和气体是非常重要的，因为这些因素可能会导致图像质量下降或损害样品。

排除扫描电镜（SEM）中的电源问题是确保仪器正常工作、提高图像质量的重要步骤。

二维（2D）材料，例如过渡金属二硫属化物（TMDs），因其独特的特性在下一代电子器件中展现出巨大的潜力。

扫描电镜（SEM）出现过度加热可能会对样品、探测器、甚至设备本身造成损害，因此及时采取降温措施是至关重要的。

扫描电镜（SEM）图像模糊可能由多种因素引起，如电子束聚焦不准、样品表面不平、扫描参数设置不当等。

在扫描电镜（SEM）中，工作距离（Working Distance, WD）和景深（Depth of Field, DOF）之间有着密切的关系。

在扫描电镜（SEM）中，不同的加速电压会显著影响成像质量、分辨率和样品表面的观察效果。