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扫描电镜可以测量样品的粗糙度吗？

扫描电镜 (SEM) 可以间接用于测量样品的表面粗糙度，但它并非专为粗糙度测量设计。

扫描电镜 (SEM) 可以分析样品的元素组成。这通常通过与 SEM 配套的能谱仪 (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, EDS 或 EDX) 或波谱仪 (Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy, WDS) 实现。

在扫描电镜 (SEM) 中，焦距调整是确保图像清晰度和分辨率的关键步骤。

扫描电镜 (SEM) 可以用来测量样品的尺寸和形状，但这种测量通常依赖于电镜的分辨率、样品表面的特征以及相关的软件工具进行精确分析。

在扫描电镜（SEM）中，畸变（distortion）是指图像中的形状、尺寸或比例的变化，可能导致不准确的分析或失真的图像。

在扫描电镜（SEM）中，样品镀金是常见的样品制备方法之一，主要用于增强样品的导电性，并避免由于样品表面电荷积累（charging）而影响图像质量。

扫描电子显微镜（SEM）的样品尺寸限制主要受到以下几个因素的影响：

在扫描电子显微镜（SEM）中，焦深（Depth of Field，DOF）是指电子显微镜能够清晰成像的样品表面区域的深度范围。